后摩尔时代,芯片领域有哪些不错的精密清洁除尘方法

2025-11-01 11:47 协积实业

后摩尔时代,随着芯片制程向纳米级甚至更小尺度演进,以及新兴应用领域对芯片性能的严苛要求,人们对芯片洁净的需求已从传统的防止颗粒污染升级为对分子级污染控制、多维度环境稳定性、智能化运维管理的全方位追求。

非接触除尘设备当芯片线宽缩小至2纳米及以下时,传统0.1微米(100纳米)的颗粒已足以造成电路短路或断路。更关键的是,分子级污染物(AMC,如酸性气体、有机蒸气)会吸附在晶圆表面,引发化学腐蚀或电迁移,导致良率骤降。例如,每立方米空气中增加10.1微米颗粒,芯片缺陷率可能上升1%-5%;而分子级污染的影响可能更隐蔽但更致命。

为了解决半导体封装、芯片制程中产生的的微尘埃、微生物、微颗粒中particle的问题,多数企业采用的是湿法清洗,但随着我国产业升级,对提升产品良率要求提高,越来越多的企业选择干法清洗。

在干法清洗领域,旋风非接触除尘设备是很多头部企业青睐的一种。

非接触除尘设备可以针对平面型、微小器件型、异形、凹凸型产品、有段差的产品、进行超微精密洁净除尘。

非接触除尘设备

比如,对电子器件-手机摄像头镜片/镜筒/模组/VCM/CMOS等器件; 半导体封装-CHIPFBGAFCBGA等封装部件;医疗化妆品-医疗器械、化妆品容器的非接触式精密洁净除尘。

非接触除尘设备使用升级定制的高旋转轴及螺旋气嘴,并以多年现场经验和积累的气流模拟量算法布置排列,可针对用户的不同使用场景设定使用。用户可以在新设工艺产线中加入非接触除尘设备,或在原有工艺设备中的必要节点加装旋风模组单元,均可达到升级改善原有洁净度、提升良率、减少人工、增进效率的良好效果。

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减少人工,提升良率,主要解决超微精密设备在特殊工艺段、关键工艺段、晶圆暴露工艺段中Partical(微生物、微颗粒、微尘埃)等问题
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