FCBGA封装与检测核心清洁痛点与难点
  • FCBGA(倒装芯片球栅阵列)作为高端芯片的核心封装形式,其锡球、基板、封装腔体的洁净度直接决定芯片的电性性能与可靠性,全流程清洁痛点突出:
  • 封装组装环节:焊锡、植球工艺易产生焊锡残渣、助焊剂残留,细微金属颗粒易附着在锡球间隙或基板表面,传统清洁易损伤锡球、破坏封装腔体气密性,且难以清除间隙内的细微杂质;
  • 电性检测环节:微尘、油污会覆盖测试触点,干扰探针台的电性测试,易造成误判漏检,同时接触式清洁会导致锡球变形、基板刮伤,引发芯片短路、接触不良等故障;
  • 高端应用环节:服务器、AI芯片用FCBGA对洁净度要求达到微米级,人工清洁效率极低、一致性差,接触式清洁设备的二次损伤风险,进一步提升了清洁作业的技术难度。

东凯·非接触式旋风清洁设备解决方案

          针对上述痛点,我们的设备可精准适配FCBGA的精密结构,实现无损高效清洁:

  • 特种结构设计:微米级多吸入口阵列布局,精准覆盖锡球间隙与封装腔体边角,配合负压精准吸附,高效收集细微污染物,杜绝清洁过程中的二次污染与锡球位移;
  • 稳定性能保障高精度转速监控+减震转轴升级,供气压波动即使达到5.0㎏/仍保持恒定低震转速,确保清洁过程中锡球、基板无损伤,封装结构不被破坏
  • 精准高效清洁:基于现场经验与气流模拟算法,优化气嘴孔径与气流压力,实现非接触式精密除尘,彻底清除锡球间隙的焊锡残渣与微尘;
  • 降本提质优势:可集成至FCBGA检测流水线,实现自动化清洁,减少人工干预,提升检测通过率与封装良率,降低返工与报废成本,适配各类FCBGA高端封装场景。

以下图片内容为东凯独有,仅作展示使用

东凯优势

东凯・特种结构设计
●多吸入口布局,有效抑制粉尘飞散
●高端转速实时监控 运行状态更可控
东凯・转轴性能升级
●强化防护结构,减少异物侵入风险
●稳定输出转速,设备运行更可靠
东凯・气压适应能力
●供气压力波动时或即使达到 5.0㎏/㎠仍保持恒定转速
●3.5㎏/㎠以上工况稳定运行,衰减幅度低。
东凯・严苛验证保障
●经过头部客户气流测试、高速摄像等多维度严格验证
●实际工况适配性与稳定性经过量产检验

绍兴东凯半导体/协积实业(上海)
减少人工,提升良率,主要解决超微精密设备在特殊工艺段、关键工艺段、晶圆暴露工艺段中Partical(微生物、微颗粒、微尘埃)等问题

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