CVD设备核心清洁痛点与难点
CVD(化学气相沉积)是半导体薄膜沉积的关键工艺,其腔体、气路、托盘等部件的洁净度直接决定薄膜质量与晶圆良率,全流程清洁痛点突出:
沉积作业环节:CVD过程中易产生未完全反应的前驱体残留、副产物颗粒,易附着在腔体内壁、气路管道及托盘表面,形成顽固薄膜层,传统清洁难以彻底清除,会导致后续沉积薄膜出现针孔、颗粒缺陷;
工艺切换环节:不同材质薄膜沉积切换时,残留的金属或介质杂质易造成交叉污染,接触式清洁易刮伤腔体内壁的耐腐蚀涂层,破坏腔体气密性;
高端制程环节:原子层沉积(ALD)等高端CVD工艺对洁净度要求达到原子级,人工清洁效率极低、一致性差,接触式清洁的二次损伤风险,进一步提升了清洁作业的技术难度。
东凯·非接触式旋风清洁设备解决方案
针对上述痛点,我们的设备可精准适配CVD腔体特性,提供高效清洁保障:
特种结构设计:多吸入口布局,配合定向气流吹扫结构,高效收集前驱体残留与颗粒副产物,抑制粉尘飞散,杜绝清洁过程中的二次污染;
稳定性能保障:大功率转速监控+封闭性转轴升级,供气压波动或即使达到5.0㎏/㎠时仍保持恒定转速,适配CVD腔体的高温环境,确保清洁力度均匀且不损伤内壁涂层;
精准高效清洁:基于现场经验与气流模拟算法,优化气嘴材质与气流参数,实现非接触式精密除尘与残膜吹扫,彻底清除腔体、气路及托盘表面的顽固杂质;
降本提质优势:可实现CVD腔体离线自动化清洁,减少人工干预,提升工艺切换效率与薄膜沉积良率,降低晶圆报废成本,适配各类高端CVD工艺场景。